负责ODW-ELEKTRIK 测量实验室的Bernd Föller 先生分享了他们在使用CT硬件和软件进行部件检测时的一些经验。
我们使用ZEISS METROTOM 断层扫描设备对这些开关进行X射线检测。只需一张X射线图像，我们就可以获得成分分析所需的所有数据。目前，我们越来越多地使用 GOM Volume Inspect 软件来进行评估。
此外，我还想说明的是，我们与蔡司的工业CT软件专家进行了很多顺畅且有效的交流。
虽然我们的组件非常复杂且不常见，蔡司专家们总是能够在很短的时间内找到针对我们问题的计量解决方案。
毕竟，选择正确的软件对于组件测试和测量至关重要。