引言
对于壁厚差异不大的工件的射线照相,通常以平均厚度获得胶片黑度不小于2来确定曝光时间。如果壁厚差异很大,胶片的某些部位可能曝光不足或者曝光过度,这可以通过所用胶片特征曲线的下半部分的形状来解释,胶片梯度(对比度)较低,相应地缺陷识别度也低。 根据EN 1435,一次曝光所覆盖的厚度范围是有限的。
两种方法:
有一些实用的方法可以防止较薄部位过度曝光和较厚部分曝光不足。 通常采用两种方法:单胶片补偿或者双胶片技术。
对于单胶片透照,可以采用以下方法:
01 在X射线管上使用滤光片来降低对比度,增强辐射强度。
02 使用更高的管电压或使用Ir192、Co60增加辐射能量,降低对比度。
03 使用与物体A 材料成分相似的材料B来补偿壁厚差,见下图1所示。
04 使用主要由金属粉末组成的特殊腻子(填充材料)代替上面方法中的补偿材料B。
检测方法图示
当使用双胶片时,可以采用以下方法:
01 同时使用两张感光度不同的胶片,但相似增感屏,进行单次透照。 比如使用Agfa D7和D4胶片。 这是最简单、最实用的方法(见上图2所示)。
02 同时透照带有不同增感屏的Agfa D7和D4胶片(见上图2所示)。
03 使用相同感光度的胶片和相同的增感屏,进行两次透照:一次透照时间基于较薄部分,另一次透照时间基于较厚部分。
04 使用相同感光度的胶片但不同的增感屏,进行两次透照。