






在电池材料研究中的应用优势
FIB-SEM断层扫描结果精确可靠,成像和材料研究重复性高。在低加速电压下仍具备高分辨率和信噪比,可跟踪体素尺寸并自动控制图像质量,确保获取清晰、准确且稳定的微观结构图像。




适用于高通量3D分析和样品制备,其分辨率、放大倍数、探针电流等参数优异,具备高分辨率3D断层扫描和分析能力,能轻松实现相关数据XRM/FIB/SEM/LM的关联,为研究提供全面而精准的数据支持。


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在电池材料研究中的应用优势
FIB-SEM断层扫描结果精确可靠,成像和材料研究重复性高。在低加速电压下仍具备高分辨率和信噪比,可跟踪体素尺寸并自动控制图像质量,确保获取清晰、准确且稳定的微观结构图像。
适用于高通量3D分析和样品制备,其分辨率、放大倍数、探针电流等参数优异,具备高分辨率3D断层扫描和分析能力,能轻松实现相关数据XRM/FIB/SEM/LM的关联,为研究提供全面而精准的数据支持。