TopMap Micro.View®
桌面式表面轮廓测量仪
产品亮点
■ 紧凑式设计
■ 非接触式测量3D轮廓,粗糙度和纹理
■ 采用连续扫描技术,Z向行程高达100 mm
■ 卓越的横向分辨率
■ 测定表面缺陷
■ 可根据实际应用选择不同显微镜头
技术参数
Metrology-Trends.com
TopMap Micro.View®
桌面式表面轮廓测量仪
产品亮点
■ 紧凑式设计
■ 非接触式测量3D轮廓,粗糙度和纹理
■ 采用连续扫描技术,Z向行程高达100 mm
■ 卓越的横向分辨率
■ 测定表面缺陷
■ 可根据实际应用选择不同显微镜头