TopMap Micro.View®

桌面式表面轮廓测量仪

TopMap Micro. View是一款紧凑式光学轮廓仪,操作简单,功能强大且价格亲民。这款白光干涉仪采用连续扫描技术(CST),Z向量程高达100mm,分辨率高达nm级,是测量复杂表面轮廓的首选设备。这款桌面式光学轮廓仪内置了电动智能寻焦器,可大大简化并加快测量过程。
受益于ECT环境补偿技术(选配), 即使在嘈杂和具有挑战性的生产环境中,Micro. View也能获取可靠准确的测量结果。因此,在制造和科研领域中用于精密工程表面检测时,它是一款具有极高性价比的质量控制检测仪器。
 

产品亮点

 

■ 紧凑式设计

■ 非接触式测量3D轮廓,粗糙度和纹理

■ 采用连续扫描技术,Z向行程高达100 mm

■ 卓越的横向分辨率

■ 测定表面缺陷

■ 可根据实际应用选择不同显微镜头

 

     技术参数