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MODUS
如何轻松、高效地为复杂几何形状的工件规划测量路径？
雷尼绍MODUS™测量路径规划软件包可将复杂的工件编程变得轻松简单。它针对工件编程的常见问题为MODUS用户提供一套简便的自动化解决办法，并通过简单易用的专用软件应用程序进一步提高REVO®测座的效率。
不仅如此，MODUS测量路径规划软件搭载先进的规划技术，提供离线编程工具和模拟运动功能，可生成无碰撞工件测量的DMIS代码。
MODUS模块化应用程序
01
MODUS叶片规划器
01
叶片测量
MODUS叶片规划器中的全叶片检测选项允许用户在叶盆、叶背、前缘和后缘上规划滑行扫描。用户可通过其中的设置和测量策略自定义测量路径，从而能够控制每个表面上的滑行扫描数量，并在纵向和横向滑行扫描之间更改测量方向。
02
截面测量
叶片规划器模块提供两种叶片截面测量方法：
1.在截面上执行滑行扫描，并且可选择连接的滑行扫描以高密度滑行扫描覆盖需采集叶片型面数据的截面，而在不需要采集数据的截面之间执行低密度滑行扫描。这种方法还可减少接近和回退移动次数，从而缩短循环时间。
2.在表面上执行截面曲线扫描在叶盆和叶背上创建曲线扫描，并在前缘和后缘上创建完整的滑行扫描。
MODUS测量路径规划软件包生成所需的DMIS，用于测量叶片型面。然后，MODUS 1.9及以上版本可执行该DMIS，并允许用户在每个截面上进行叶片型面分析。
03
片区测量
为针对整个叶片和周围的表面提供路径规划工具，MODUS叶片规划器模块中包含MODUS片区规划器所具有的所有选择方法：
通过点轮廓（区域）创建片区
从选定的表面（表面）中选择片区
通过中心线上的点创建片区
通过CAD边缘创建片区
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02
MODUS片区规划器
截至目前，MODUS用户仍需使用手动操作工具自行定义曲面滑行扫描路径，以避免发生碰撞。而现在，MODUS片区应用程序具备自动路径规划功能，可通过REVO RSP2测头快速、轻松地提供高效测量路径。
通过点创建片区
通过创建一系列点来定义一个滑行扫描路径，以此在CAD上创建一个四边形区域。
通过表面创建片区
点击CAD模型，选择一个表面或一组连接的表面点，以此定义片区。
CAD边缘和中心线滑行扫描生成
通过CAD边缘创建片区
利用CAD边缘确定滑行扫描路径。使用此工具还可将MODUS切片选定为边缘。当选定起始点和终止点之后，该软件将生成最短路径。
通过绘制中心线来创建片区
通过在表面上创建一系列中心线点来定义滑行扫描路径。
点和表面滑行扫描生成
当确定选择方法之后，即可根据需要在设置菜单中编辑滑行扫描宽度、方向和其他特性。
03
MODUS曲线规划器
曲线规划模块包含两个选项：RSP2曲线和RSP3曲线。RSP3增加了使用不同测头组件测量复杂几何形状的功能。
可以通过从CAD模型中选择边缘或点击平面上的点来定义曲线。
01
在CAD边缘上创建曲线
通过从CAD模型或使用MODUS创建的切片中选择边缘来定义曲线。
02
在平面上绘制曲线
通过点击平面上的多个点来定义曲线。使用样条曲线来创建路径。
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RSP2曲线选项的其他选择
在平面上创建边缘偏置
在CAD模型上选定所需的平面并选择边缘之后，将应用偏置值。
软件设置还辅有一组图形选项，可方便路径连接和修剪，从而获得有效结果。
在一个表面上可选择多个边缘，然后连接在一起。这样可创建不离开表面的测量操作，从而减少两次测量之间的移动时间。
在平面上创建特征规避边缘偏置
当选择了平面和边缘之后，此选项将在CAD模型中自动检测并避开需要在测量时避开的几何形状，并通过调整偏置值来更新路径。用户可针对每个曲线测量选择一个边缘。
RSP3曲线选项的其他选择
固定测座角度节段
RSP3测头以固定的测座角度测量，但是在某些曲线扫描过程中测头可能会离开表面，因而测座角度可能会改变。
MODUS曲线模块中的RSP3曲线组件能够定义测头不会离开表面的测量节段。这样用户能够沿一条曲线路径扫描以满足高精度区域的要求。
当选定曲线之后，即可轻松地在设置中编辑扫描方向等参数。针对上述两种曲线定义方法，该应用程序具有约束坐标测量机运动的功能，可在测量平面上的曲线时减少坐标测量机的轴运动。约束轴运动功能与无碰撞运动规划功能的结合大大缩短了编程时间，从而可实现快速、高效的曲线测量。
为什么要约束坐标测量机运动？
约束坐标测量机的一个或多个轴可增加REVO测座的运动，同时减少坐标测量机的运动。通过约束两个轴并仅在平行于被测平面的一个轴上移动，机器将仅在被测平面方向上发生形变，从而消除误差。这种方法能够提高现有机器的工件测量速度或精度。
例如，当测量缸体密封面的平面度时，约束两个轴可提高机器运行速度而不会引起测量误差。在理想情况下，将机器的Z轴用于上下移动REVO，因为它的移动质量最低，同时约束X轴和Y轴。在这种情况下，不存在弯曲力，而仅在整个主轴上的坚硬部位存在压缩/拉伸力。如果Z轴不可行，则X轴（同时约束Z轴和Y轴）是第二选择，因为它的移动质量第二低。即使是仅移动Y轴，与传统五轴扫描将测座接近和离开工件相比，这种方法也颇具优势。
