而比对测量的过程就有点不同了。比对测量是确定一个零件比预定的标准件小还是大的过程。对于测量设备不需要内置大量程的参考标准。确切地说，比对测量设备的测量范围只需要覆盖被测产品的公差带即可。比较仪通常是用来专门测量某一部件的，操作过程非常快速。因此，比较仪往往用于高产量的生产领域，并且通常比直接测量工具更精确。由于比较测量的应用非常具体，它们不像直接测量仪器那样通用，因此只需要很小的移动范围—通常小于5mm。因此，超高分辨率的显示器通常会与比较仪一起使用。
另一个典型的例子是千分尺和卡规，千分尺通常具有较大的测量行程(25mm)， 测量范围为25mm 以上的千分尺通常只需要一个校对棒标定后即可测量25mm范围内的所有尺寸。
而卡规外观与千分尺类似，但内部结构却大相径庭，卡规的测量行程通常只有2mm以内，但测量范围却能达到50mm 左右。因此卡规在测量过程中需要多个标准器或者工件作为设定基准来使用。
根据这个特点，卡规更适合用于测量单一尺寸的批量零件，而通过测试我们也可以发现，卡规的精度以及测量不确定性要远远优于千分尺。
通过上述的例子，我们可以大概了解作为测量器具最重要的两个要素：量程与精度，通常是以对立面的形式出现的。大量程意味着较低的测量精度，而小测量范围，可能为使用者带来超乎想象的测量精度和重复性。因此在您选购测量设备之前，您是否已经了解好了您更需要哪一方面的性能？