近红外光：可实现无损式测量 NIR
搭载近红外光镜头的影像测量仪可以较好地解决此类难题。近红外光可以直接透过层间材料确认Die的位置，从而避免了激光开孔所产生的繁琐工序，大大提高了提高测量效率，是评价ABF膜等绝缘层间材料的有力助手。
通过观察以下画面，不难发现，相较于普通的影像测量仪，搭载了近红外光镜头的影像测量仪显著地提高了近红外范围的透射率，用户在观察工件时，对比度更加突出，更容易进行测量评价。
通过观察以下画面，不难发现，相较于普通的影像测量仪，搭载了近红外光镜头的影像测量仪显著地提高了近红外范围的透射率，用户在观察工件时，对比度更加突出，更容易进行测量评价。