分光干涉式原理SI-系列 同时测量厚度和位移,测量精度高达0.01μm 通过对反射光的干涉光进行分析,既可测量与物体的距离,又可测量对象物的厚度。 一台可对应各种各样的场所和对象物*可测量范围 5μm~670μm(折射率n=1.5时)*分辨率0.01μm 指定想要测量的层,实现多层厚度内部测量 小光点测量,高精度描绘产品真实厚度轮廓 行业应用广泛,助力客户产品薄型、轻量化进行 收藏 文章导航 逆向工程—使用3D扫描仪VL系列进行 请查收非接触无需切割的厚度测量案例