Sensofar
钙钛矿的表面结构
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钙钛矿型材料，尤其是用于太阳能电池的钙钛矿薄膜，其表面粗糙度对器件的性能有着显著影响。因此，精确测量表面粗糙度对于提高钙钛矿型器件的性能和稳定性至关重要。
01
PSI
相位偏移干涉测量
PSI相移干涉法–可以用于测量亚埃分辨率的高度光滑和连续表面的高度。可以使用极低的放大率(2.5X)测量具有相同高度分辨率的大视场。
在测量超光滑表面粗糙度方面具有明显优势。PSI技术通过改变光波的相位来获取表面的高度信息，具有高垂直分辨率和低噪声水平。这使得PSI非常适合于测量非常光滑的表面，如半导体、光学元件和某些高级材料的表面。
02
钙钛矿的表面结构
钙钛矿表面粗糙度关乎制造的精度，对于这种表面非常光滑的材料，PSI的测量噪声较CSI更低，可低至0.01nm。在这种情况下，Sa值远远高于背景噪声，表明测量更加准确。为钙钛矿型材料的制造和性能优化提供了精确的测量手段。
03
Dantsin-Sensofar
3D非接触式测量
Dantsin-Sensofar3D非接触式测量系统通过相移对不同位置上的初始相位进行求解，获得连续的表面相位分布再进而还原出表面形貌。对于光滑且角度变化不大的大区域表面的平整度状况，可以提供准确高效的测量结果。
随着钙钛矿型材料在各个领域的深入研究和应用，Dantsin-Sensofar3D非接触式测量系统PSI技术将在精确测量和控制表面粗糙度方面发挥更加重要的作用。