随着科技的飞速发展,材料科学不断突破传统边界,尤其是金属材料的研究领域,已成为新兴技术创新的关键。而高性能扫描电镜(SEM)作为金属材料分析的重要工具,正发挥着越来越重要的作用。在众多扫描电镜品牌中,CEM3000系列台式扫描电镜凭借其卓越的性能和广泛的应用范围,成为许多科研机构和企业的选择

CEM3000系列台式扫描电镜在金属材料的多种复杂分析中提供了精准的解决方案。接下来,我们将从几个具体应用案例出发,详细探讨CEM3000系列台式扫描电镜在金属材料分析中的出色表现。

01

磁性材料分析(铷铁硼)

铷铁硼(NdFeB)是一种常见的稀土永磁材料,广泛应用于高性能电机、传感器以及磁性储能装置等领域。在铷铁硼的相组成中,最核心的主相Nd2Fe14B。是一种具有四方晶体结构的化合物,其独特的电子排布使得它能够在外界磁场的作用下,实现高度的磁化排列,展现出强大的磁性。
而其实铷铁硼的组成并非仅有Nd2Fe14B相那么简单,富铷相在铷铁硼材料中扮演者“软磁相”的角色,它的存在可以调整材料的磁畴结构,提高磁性材料的矫顽力和磁能积。
通过CEM3000A台式扫描电镜高分辨背散射图片可清晰观察到“冰糖块状”的Nd2Fe14B晶粒结构,以及富铷相分布在晶粒间。

图 1 铷铁硼材料微观形貌图 2 铷铁硼材料元素面分布结果

02

金属间化合物(IMC)分析

金属间化合物(IMC)是指金属与金属、金属与类金属之间以金属键或共价键结合形成的有序晶体结构化合物。其是许多金属合金体系中的关键组成部分,对材料的机械性能、耐蚀性等方面有着重要影响。特别是在电子封装、焊接材料等领域,IMC的成分、形态和分布直接关系到产品的可靠性。
例如焊锡与被焊底金属之间,在热量足够的条件下,锡原子和被焊金属原子(如铜、镍)相互结合、渗入、迁移及扩散,形成一层类似“锡合金”的化合物。微小厚度的IMC可以稳固焊料和基体的冶金结合,较厚的IMC在热循环的作用下会引起界面处的应力集中,导致脆性断裂,从而引发性能的失效。
通过CEM3000A台式扫描电镜可清晰观察到引脚焊接界面的IMC层并进行厚度测量。结合能谱,可以观察到焊料和基体的冶金结合的元素的变化趋势。

图 3 低倍下金属结合区域全貌

图 4 金属间化合物特征尺寸测量

图 5 金属间化合物元素线扫描结果

03

粒度分布与孔隙统计

粒度分布和孔隙结构是金属材料性能的重要决定因素,特别是在粉末冶金和铸造等领域,粒度和孔隙的控制直接影响到金属的强度、韧性和耐磨性。
CEM3000系列台式扫描电镜在粒度分布和孔隙统计方面的表现得到了广泛认可。通过高分辨率的成像能力,CEM3000能够精准地测量金属粉末的颗粒大小、形状及其分布情况。此外,其强大的软件定制功能能够对金属材料中的孔隙结构进行细致的统计分析,为优化材料工艺、提高产品性能提供数据支持。

图 6 金颗粒样品高倍数形貌观测
图 7 金颗粒样品颗粒识别及统计

图 8 颗粒尺寸分布图

04

断口失效分析

金属材料在使用过程中常常会出现失效现象,诸如裂纹、腐蚀、疲劳等。这些失效现象不仅会影响产品的质量,还可能带来严重的安全隐患。因此,对失效原因的精确分析至关重要。
CEM3000系列台式扫描电镜在金属失效分析中发挥着重要作用。通过其超高的分辨率和先进的分析功能,CEM3000能够深入到金属材料的微观结构层面,揭示裂纹的起始位置、腐蚀的扩展路径以及疲劳损伤的微观机制等。无论是在金属表面缺陷的识别,还是在内部微观结构的分析,CEM3000都能提供最为精确的诊断结果,帮助工程师找到失效根源并采取针对性改进措施。
在下图的案例中,该钢丝断口呈木纹状组织,放大后可见一些带状夹杂物。这些带状组织一般由铸坯而来,经轧制后演变成带状;轧制后的表面带状结构在切应力的作用下,性能下降,导致开裂。

图 9 钢丝断口样品图

选择CEM3000系列台式扫描电镜,不仅是选择一款先进的分析设备,更是为您的金属材料研究和开发注入创新动力。探索微观世界,助力材料创新,CEM3000系列台式扫描电镜愿与您携手共进,开启金属材料研究的新篇章!