普雷茨特飞点扫描仪 (FSS) 在光学测量行业是突破性的产品,其可在短时间内以 70 kHz 的测量速度对 ROI 区域进行快速扫描,目前广泛应用于晶圆测厚、手机段差、摄像头镜片厚度/形貌检测等。

飞点扫描仪(FSS)310 可在更短的周期内对半导体晶圆进行弯曲度、翘曲度、TTV 和质量检测。针对 12 英寸晶圆,更是能够通过灵活高效的扫描轨迹、纳米范围内的 Z 分辨率等实现一次扫描,最终大幅缩短高端芯片的量产时间。

2023 年,普雷茨特携最新款光学测量产品 – 飞点扫描仪 FSS 310,拔得棱镜奖下属 Test & Measurement 测试与测量类别的头筹!

棱镜奖(Prism Award)又称光电行业的奥斯卡,在所属行业具备举足轻重的地位,其由国际光学工程学会(SPIE)主办主办,旨在表彰和庆祝当今市场上光学和光子学产品不断涌现的技术创新。

FSS 310 独特地结合了 OCT 和宽视野扫描,解决了超精密测量系统普遍存在的检测速度慢、价格昂贵的问题。

FSS 310 在视野内具有灵活、快速移动的测量点,可在超短周期内进行 ROI 检测,同时丝毫不影响精确度。本设备在一次扫描中便可测量整个 12 英寸晶圆的总厚度变化 (TTV)、弯曲、翘曲和孔洞。

 

优势:

1. 支持高速非接触式 ROI 检测
FSS 310 具有 310 毫米的巨大扫描区域,在标准应用中可在 10 秒内检查 12 英寸晶圆的 TTV、弯曲、翘曲和孔洞,每小时可生产 300 多片晶圆(包括处理时间)。一体扫描系统使得短旋转运动取代长路径的线性运动,大大减少了测量时间,并且无需借助精密轴

2. 在线检测具有很大的灵活性
FSS 310 支持仅从晶圆的一侧进行测量,因为其可穿透除金属以外的所有重要半导体材料,甚至可测量晶圆背面或背面的物体。
得益于无需借助额外轴或精密硬件的 ROI 超快速检测以及超短的扫描周期,FSS 310 可在不中断生产的情况下轻松集成至自动化或内联应用程序中

3. 适用性广泛
搭配 CHR 2 IT 系列设备,用户可编程的完全可变扫描轨迹可对硅、掺杂硅、砷化镓和碳化硅晶圆进行厚度和距离测量。
FSS 不仅可测量弯曲、翘曲和 TTV,还可检测晶圆上的孔洞、半导体元件涂层的厚度(例如晶圆的部分叶状结构),以及在进一步加工之前测量晶圆上单个晶粒的弯曲程度。