S wide 3D轮廓测量仪

S wide 3D轮廓测量仪是专用系统,适用于快速测量大样品区域,测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能,易于使用。

解决方案
大面积3D光学测量系统 

 

快速测量

采集只需一秒钟。利用 S wide 3D轮廓测量仪的条纹投影技术和一系列不同的采集模式,可以优化测量以实现超高的量测效率。

易于使用

使用 S wide 3D轮廓测量仪进行测量非常简单:加载样品、设置方法以及检查结果。

捕捉每个细节

高分辨率 3D 成像

这款 3D 轮廓测量仪配备 500 万像素彩色摄像头,加上数字变焦功能,可捕捉样品的各种细节。

大型设置

工业测量解决方案

借助 300 x 300 毫米的平台配置,可测量大量样品阵列和大面积区域。

亚微米级重复性

精密光学测量

S wide 3D轮廓测量仪采用专有的条纹投影算法,可实现微米级精度,在大面积的测量表面上提供无与伦比的亚微米高度重复性。

高效的数据提取

S wide 3D轮廓测量仪配备了一套分析工具,可以从测量数据中提取每条信息:粗糙度和平整度参数、关键尺寸、GD&T 和 CAD 比较。

左右滑动查看S  wide 最新官方宣传资料